機種名	ベックマン・コールター LS13 320	A社	B社	C社	D社
測定原理	光回折法、ミー散乱法 偏光散乱強度差法（PIDS）	光回折法、 ミー散乱法。	ミー散乱法	光回折法、 ミー散乱法	光回折法、 ミー散乱法
測定範囲（μm）	0.017〜2000	0.02〜2000	0.01〜3000	0.03〜1000	0.02〜2000
光源	長波長半導体レーザ 780nm PIDS（特許）用タングステンハロゲン450nm,600nm,900nm	長波長半導体レーザ750nm3本	He-Neレーザ 633 nm、LED 青色	半導体レーザ 680 nm	He-Neレーザ　633nm、LED　466nm、
検出器数	133個 光回折散乱用126個 PIDS用7個	70個	87個       75個リング状       12個	81個	48個
測定分解能	116粒径分割 サブミクロン領域36分割	100粒径分割 サブミクロン領域25分割	80粒径分割 サブミクロン領域20分割	51粒径分割サブミクロン領域16分割	100粒径分割サブミクロン領域20分割
乾式法測定オプション	トルネード方式（特許） 均一な分散で再現性が良好 乾式/湿式の交換は容易	有り	有り（内蔵）	有り	有り
各検出器の感度チェック及び自動補正機能	有り	無	無	無	無
全自動測定システム	28検体セット可能 分散剤の選択、超音波の処理などを全自動でサンプルの前処理を行う 最適な測定濃度を自動調製	30検体 自動測定により、測定者の負担を減らすことができますが、全自動の測定は不可	24検体 サンプルの前処理は、攪拌のみで不十分 セットしたサンプルは全量での測定ではなく、サンプリングの誤差は大きい	無	無
光軸調整	高精度自動調整	自動調整	自動調整	手動調整	自動調整
屈折率の変更	実数・虚数部とも自由に変更可能。任意の光学定数をユーザーが光学ファイルを作成出来る。	本体内の値のみ使用可能。任意の光学定数の作成は不可。	本体内の値のみ使用可能。任意の光学定数の作成は不可。	本体内の値のみ使用可能。任意の光学定数の作成は不可。	本体内の値のみ使用可能。任意の光学定数の作成は不可。
光源強度自動チェック機能	有り 一定の光強度が得られない場合、エラーメッセージ。トラブルにおいても自動判断を行う	無	無	無	無
21CFR Part 11対応	21CFR Part11対応			21CFR　Part11対応	21CFR　Part　11対応
保守契約	GMPに従ったV-Check保守プログラム	一般保守	一般保守	一般保守	一般保守