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nano tech 2013 報告

nanotech2013のベックマン・コールターブースでは、体積分布だけでなく粒子の個数を同時に測定できるMultisizer4を中心にナノテクノロジーに関するソリューションを一同に展示しました。またライカマイクロシステムズ社とのコラボレーションで「半導体」、「トナー」に関する品質管理のソリューションをご紹介しました。

ライカマイクロシステムズ社とコラボ展示
ライカマイクロシステムズ社とコラボ展示

粒子の個数と体積分布測定が可能なMultisizer 4
粒子の個数と体積分布測定が可能な
Multisizer 4

半導体およびトナーの品質検査のソリューションを提案
半導体およびトナーの品質検査の
ソリューションを提案

ベックマン・コールターブースには昨年の3倍のお客様にご来場いただきナノテクノロジーに関する様々なソリューションをご覧いただきました。本当にありがとうございました。

  • 開催日時
  • 2013年1月30日(水)〜2月1日(金)10:00〜17:00
  • 会  場
  • 東京ビッグサイト 東4・5・6ホール  MAP
    ベックマン・コールターブース 5E-25 (東5ホール)
  • 展示製品
  • 精密粒度分布測定装置 Multisizer 4
    高精度型レーザー回折散乱法 粒度分布測定装置 LS 13 320
    キャピラリー電気泳動システム P/ACEシステムMDQ
    卓上型超遠心機 Optima MAX-XP
    分析用遠心システム ProteomeLab XL-I (光学系モックアップ展示)


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